Microscopio di misura HITEC QZW 1 400 x 250 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Condizione: eccellente (usata), Funzionalità: perfettamente funzionante, Offriamo qui un microscopio di misura QZW 1 di HITEC in ottime condizioni Tipo: 250 x 170 mm Software M3: riconoscimento automatico dei bordi, controllo delle tolleranze secondo DIN/ISO, visualizzazione degli elementi con inserimento delle tolleranze, visualizzazione dei pezzi con quotatura, visualizzazione live durante la misurazione, salvataggio aggiuntivo delle immagini per la documentazione PC touch Dell con Windows 10 (aggiornabile a 11) Certificato di calibrazione valido fino al 31.07.2025 CAMPO DI MISURAZIONE ASSE X-, Y- (MEASURING RANGE X-, Y-AXIS): 250 x 170 mm ERRORE DI MISURA SULLA LUNGHEZZA (LENGTH DEVIATION): 1,9 μm + L/100 (L in mm) CAMPO DI MISURAZIONE ASSE Z- (MEASURING RANGE Z-AXIS): 150 mm SISTEMA DI MISURA ASSE Z- (MEASURING SYSTEM Z-AXIS): opzionale FOTOCAMERA (CAMERA): USB 3.0, 25 fps, 2,0 megapixel OBIETTIVO (OBJECT LENS): obiettivo fisso / opzionale zoom manuale/motorizzato 0,7x - 4,5x INGRANDIMENTO (MAGNIFICATION): 40x oppure 35x - 225x (con obiettivo zoom) CAMPO VISIVO (FIELD OF VIEW): 8 mm oppure 9 mm - 1,5 mm (con zoom) ILLUMINAZIONE EPISCOPICA (SURFACE LIGHT): anello LED a 4 segmenti (opzionale illuminazione coassiale) ILLUMINAZIONE DIASCOPICA (TRANSMITTED LIGHT): LED (opzionale telecentrica) AUSILIO DI POSIZIONAMENTO (POSITIONING): puntatore laser Gjdpfjxwb Hqex Abdsui CAPACITÀ DI CARICO DEL TAVOLO (TABLE LOAD CAPACITY): max 20 kg DOTAZIONE (DELIVERY CONTENT): QZW1, PC Touchscreen 23", software M3, certificato di calibrazione, manuale d’uso Applicazioni: La serie QZW1 vi supporta nelle misurazioni di alta precisione e ripetibilità di pezzi complessi di qualsiasi materiale. Grazie alle numerose opzioni, come obiettivo zoom, diverse lunghezze di asse Z e dimensioni del piano di misura, il QZW1 offre tutte le possibilità per soddisfare le vostre esigenze di misurazione specifiche per ogni pezzo.