Diffrattometro a raggi X (XRD)

PANalytical X’Pert PRO MPD

PANalytical
PANalytical X’Pert PRO MPD Diffrattometro a raggi X (XRD)
Estratto dal rapporto di servizio:
Apparecchiatura: PANalytical X’Pert PRO MPD
Data del rapporto: 07.07.2021
Interventi eseguiti:
- Ricollocazione e messa in funzione del sistema
- Collegamento delle linee di alimentazione esterne
- Fase di riscaldamento
- Allineamento completo del goniometro e altri componenti
- Esecuzione di manutenzione inclusa la sostituzione delle parti difettose
Componenti di ricambio utilizzati:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERIA NI-CD
Dsdpfx Aowycatsfzeku
VENTOLA per unità X-CELERATOR
FILTRO, FILTRO ACQUA
Motore PW3050
("L’apparecchio non è stato testato presso la nostra sede")
Lo X’Pert PRO MPD è un diffrattometro a raggi X (XRD) estremamente versatile e potente per la caratterizzazione strutturale di materiali cristallini. – Ideale sia per la ricerca pura che per applicazioni di routine in ambito industriale e universitario. Grazie al suo design modulare, alla rapida acquisizione dati, al controllo della temperatura e dell’atmosfera, è adatto sia ad analisi di routine che a esperimenti in situ complessi.
Caratteristiche principali:
Geometrie di misura selezionabili:
- Riflessone in modalità Bragg-Brentano (θ–2θ)
- Geometria a trasmissione per polveri in capillari
- SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) opzionale per nanostrutture
Sorgente di radiazione e rivelatori:
- Generalmente anodo di rame (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- Rivelatore X’Celerator (1D, ultra-rapido) per acquisizione dati parallela
Sistema modulare con tecnologia PreFIX:
- Cambio rapido di ottiche e stadi campione senza ricalibrazione
Misure in situ ad alta temperatura:
- Misure fino a ca. 1200°C possibili
- Atmosfera controllata: aria, azoto, ossigeno (ridotto in modalità riducente)
Applicazioni tipiche:
- Analisi di fase e quantificazione tramite Rietveld
- Determinazione di dimensione dei cristalliti, microdeformazione, tensioni residue
- Studio in situ di transizioni di fase, ossidazione, cristallizzazione ecc.
- Misure SAXS per analisi di nanoparticelle, porosità
- Ampio spettro di campioni: polveri, film sottili, ceramiche, farmaceutici, catalizzatori, ecc.
Dati tecnici (tipici)
Parametro e specifiche
Intervallo angolare (2θ): ca. 0,5°–150°
Passo: fino a 0,002° o inferiore
Goniometro: verticale, 0–0, raggio ca. 240 mm
Intervallo di temperatura: da temperatura ambiente fino a ca. 1200 °C
Atmosfera: aria, N₂, O₂ (limitato per atmosfera riducente)
Rivelatori: X’Celerator (1D), contatore proporzionale
Disseminazione e luoghi d’utilizzo:
Lo X’Pert PRO MPD è utilizzato in tutto il mondo, ad es. presso:
Università (ETH Zurigo, TU Dresda, Uni Vienna)
Istituti di ricerca (es. Max Planck, ICN2, IS2M)
Industria (sviluppo materiali, farmaceutica, chimica)
Condizione: usato
Fornitura: (vedi foto)
(Modifiche e errori nei dati tecnici e nelle informazioni riservate!)
Per ulteriori domande siamo disponibili telefonicamente.

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