Analizzatore di metalli stazionario

Spectro SPECTROLAB F / LAVFC01A

Produttore: SPECTRO Analytical Instruments GmbH & Co. KG
Tipo: SPECTROLAB F / LAVFC01A
Anno di fabbricazione: 2004
Numero progetto/ordine: 16996/04
Numero di laboratorio: 116996-04
Analizzatore metallico stazionario / Spettrometro a emissione ottica (OES) per leghe di rame

Analizzatore metallico SPECTRO SPECTROLAB F stazionario per l'analisi quantitativa dei materiali
tramite spettrometria di emissione ottica (OES/spettrometria a scintilla).
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Secondo la documentazione originale disponibile, il sistema è progettato per l'analisi di
materiali a base di rame. Sono installati e documentati i programmi CU-00 per la
standardizzazione della base di rame, CU-20 per le leghe Cu/Zn e CU-70 per le leghe Cu/Al.
Lo spettrometro dispone di tre ottiche e canali di misurazione documentati per numerosi
elementi di lega e elementi accessori. Tra gli altri, vengono rilevati Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni,
Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P e S.
È disponibile un'ampia documentazione originale, tra cui protocolli di test e
fotomoltiplicatori, documenti di configurazione, documenti di standardizzazione e il
manuale d'uso del software Spark Analyzer Vision. Sono disponibili anche vari
campioni di ricalibrazione/riferimento e accessori.
Un'analisi datata 20.12.2022 documenta l'uso pratico del sistema per l'analisi di materiali
CuZn40Pb2. L'analisi mostra valori misurati per numerosi elementi di lega e tracce.

Condizioni di seconda mano, con segni di usura dovuti all'età e all'uso.
L'apparecchio risale al 2004. È disponibile un'ampia documentazione specifica per
l'apparecchio, accessori e campioni di ricalibrazione/riferimento. L'utilizzo e l'esecuzione di
analisi dei materiali sono documentati da analisi disponibili risalenti a dicembre 2022.

Contenuto della fornitura
• Analizzatore metallico SPECTRO SPECTROLAB F
• Campioni di ricalibrazione/riferimento disponibili
• Vari campioni e standard
• Set di cavi o cavi di collegamento disponibili
• Piccole parti e materiali di consumo
• Adattatore per piccole parti
• Boronitruri disponibili
• Accessori SPECTRO disponibili
• Supporti software/dati, tra cui SPECTRO Data Backup
• Documentazione e documenti di test
• Manuale d'uso Spark Analyzer Vision
• Documentazione su DIA 2000 / DIA2000SE
• Protocolli di test dei fotomoltiplicatori
• Documenti di configurazione e standardizzazione
Il PC, il monitor e la stampante sono elencati nei documenti di consegna originali.

Metodo di misurazione: Spettrometria di emissione ottica (OES) / Spettrometria a scintilla
Esecuzione: analizzatore metallico stazionario
Sistema di lettura: MIKRO 8
Calibrazione: base di rame
Applicazioni: Cu-20 / Cu-70
Standardizzazione: CU-00 – Base di rame
Programmi installati:
CU-00 – Standardizzazione base di rame
CU-20 – Leghe Cu/Zn
CU-70 – Leghe Cu/Al
Sistema ottico:
1 × Ottica UV, documentata con 6 linee
2 × Ottiche a luce visibile, documentate con 13 / 7 linee
Ottica 1: 3600 / 750
Ottica 2: 3600 / 750
Ottica 3: 2400 / 750
Monocromatore: No
Sorgente di eccitazione: 3000 / 300 Hz / Ar puro
Tensione di esercizio: 230 V
Frequenza di rete: 50 Hz
Lingua di esercizio: Tedesco
Elementi documentati:
Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni, Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P, S

Fotomoltiplicatore: prevalentemente R6350, singoli canali UV R6351 secondo la documentazione dei test
Software secondo la documentazione: DIA 2000 Basis / DIA2000SE, Spark Analyzer Vision
Manuale Spark Analyzer Vision: Versione 09/2004
Versione software documentata: 1.40.0xx

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